Одинарная кристальная Кремниевая пластина/5*15 мм Si подложка/односторонняя



Сохраните в закладки:

Цена:3 732,79RUB
*Стоимость могла изменится

Количество:


Новое поступление

Характеристики

Одинарная кристальная Кремниевая пластина/5*15 мм Si подложка/односторонняя

История изменения цены

*Текущая стоимость 3 732,79 уже могла изменится. Что бы узнать актуальную цену и проверить наличие товара, нажмите "Добавить в корзину"

Месяц Минимальная цена Макс. стоимость Цена
Mar-27-2026 4441.26 руб. 4663.63 руб. 4552 руб.
Feb-27-2026 4404.95 руб. 4624.64 руб. 4514 руб.
Jan-27-2026 3695.53 руб. 3880.71 руб. 3787.5 руб.
Dec-27-2025 4329.22 руб. 4545.56 руб. 4437 руб.
Nov-27-2025 3769.9 руб. 3957.94 руб. 3863 руб.
Oct-27-2025 4254.19 руб. 4467.17 руб. 4360.5 руб.
Sep-27-2025 4217.5 руб. 4428.25 руб. 4322.5 руб.
Aug-27-2025 4180.43 руб. 4389.3 руб. 4284.5 руб.
Jul-27-2025 4143.16 руб. 4350.77 руб. 4246.5 руб.

Описание товара

Одинарная кристальная Кремниевая пластина/5*15 мм Si подложка/односторонняяОдинарная кристальная Кремниевая пластина/5*15 мм Si подложка/односторонняяОдинарная кристальная Кремниевая пластина/5*15 мм Si подложка/односторонняяОдинарная кристальная Кремниевая пластина/5*15 мм Si подложка/односторонняя


ОдиночныйБоковая полировка одинарного кристалла кремния

Технические характеристики:

Одинарный кристалл, 5*15 мм.Коробка передач длина волны1200-14000nm.Односторонняя полировка, в месте.

Материал:

Высокая чистота кремния Si одиночный Кристалл подложки. N/P опционально.

Область применения:

1. PVD/CVD покрытие подложки

2. Используется как XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующий электронный микроскоп), AFM (атомный силовой микроскоп), FTIR инфракрасный, флуоресцентная спектроскопия и другие аналитические испытательные подложки

3. Экспериментальный носитель образцов синхротронного излучения

4. Подложка для молекулярного пучка эпитаксиального выращивания

5. Процесс литографии полупроводников и так далее

12345678


Смотрите так же другие товары: